Research
FACILITIES
- All Facilities
- 大學部可使用設備
- Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM
FT Hardness Rockwell C
- 儀器名稱: FT洛氏硬度計
- 位置: 工程六館EF409
- 服務項目: 大學部實驗課
- 廠牌: FUTURE-TECH
Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM)
- 位置：工程六館EF213
- 儀器廠牌：FEI Nova 200
- 購置年限：2005年06月
- 用途：奈米材料之奈米尺度切割、加工、蝕刻、操縱與分析檢測。
Specific Surface Area＆Pore Size Distribution Analyzer, BET analyzer
- 位置：工程六館EF506
- 儀器廠牌、型號：Micromeritics、ASAP2020
- 購置年限：2010年11月
- 用途：測量各式孔洞材料之比表面積，孔洞體積與平均孔徑。
Auger Electron Microprobe
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表面定性分析(Survey Scan)： 樣品表面各種化學元素之存在
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歐傑電子微區分析(Auger Point)：樣品表面選定微區之成份
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歐傑電子縱深分析(Auger Depth profiling)：離子蝕擊下，樣品之各種化學元素的縱深分布
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XPS化學態/成分分析：分析元素化學態及成分鑑定
Laboratory furnace
- 儀器名稱: 精密實驗爐
- 位置: 工程六館EF410
- 儀器廠牌:啟墩
- 購置日期:102.09.06
- 服務項目: 大學部實驗課
Charpy Impact Testing Machines
- 儀器名稱: 衝擊試驗機
- 位置: 工程六館EF412
- 儀器廠牌:弘達
- 服務項目: 大學部實驗課
Innova SPM
- 位置：工程六館EF212
- 儀器廠牌：Veeco
- 購置年限：2010年12月
- 用途：材料表面微結構，磁區分布等分析
Computer Type Universal Testing Machines
- 位置: 工程六館EF412
- 儀器廠牌:弘達
- 服務項目: 大學部實驗課
Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM
- 儀器購置年月：2005年 6 月
- 儀器經費來源：教育部
- 廠牌及型號：日本JEOL JSM-6700F
- 放置地點：光復校區工程六館103室
Etching Hood
- 位置:工程六館 EF404
- 儀器廠牌: H.T.S.C
- 購置年限: 101.09.07購入/5年限
- 用途: 使用化學溶液操作
- 服務項目: 大學部實驗課
Auto Fine Coater
位置：工程六館EF103
儀器廠牌、型號：JEOL、JFC-1600
購置年限：2005年12月
用途：試片鍍膜處理，鍍上一層薄金屬膜(以不影響觀測結果為主)，增加試片的導電度，以利於掃描式電子顯微鏡影像觀察
Transmission Electron Microscope & Energy
- 位置：工程六館EF106
- 儀器廠牌：Philips、TECNAI 20
- 購置年限：2000年12月
- 用途：金屬、無機非金屬材料、陶瓷材料和各種奈米材料進行透射電子顯微影像，高分辨像，電子繞射等分析
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope, FESEM
- 位置：工程六館EF211
- 儀器廠牌：捷東 JEOL，JSM-6500F
- 購置年限：2003年1月
- 用途：材料表面之微結構觀察
Transmission Electron Microscope
- 位置：工程六館EF107
- 儀器廠牌：JEOL JSM-2100
- 購置年限：2007年09月
- 用途：具有穿透及掃描功能，可作各種固體材料微細組織，晶體結構及缺陷之顯微觀察分析。
Powder X-ray Diffraction, XRD
- 位置：工程六館EF101
- 儀器廠牌：BRUKER D2 PHASER
- 購置年限：2010年05月
- 用途：提供塊材粉末與薄膜之一般繞射分析，如晶相鑑定，結構解析。
Multi-function High Resolution X-ray Diffractometer
- 位置：工程六館EF101
- 儀器廠牌：D8 DISCOVER
- 購置年限：2010年05月
- 用途：以非破壞性檢測各式材料的晶體結構分析，加以探討材料性質的變化
Fourier Transform InfraRed Spectroscopy, FT-IR
- 位置：工程六館EF214
- 儀器廠牌：PerkinElmer spectrum 100
- 購置年限：2006年09月
- 用途：量測樣品之紅外吸收光譜，鑒定有機物質之官能機
Laser Molecular Beam Epitaxy
- 位置：工程六館
- 儀器廠牌、型號：Pascal Co., Ltd.、Compact Laser MBE, PAC-LMBE
- 購置日：98. 09. 07
- 用途：高能電子束繞射系統，可以即時監測材料成長的速率，成長模式及磊晶關係等資訊
Electromigration Measurement System
- 位置：工程六館 EF605
- 儀器廠牌、型號：安捷倫
- 用途：供應固定電流，同時量測試片電阻。可設定固定時間斷電或在試片到達設定電阻時斷電，並能同時測試上百組試片。